Русский
 English
 العربية
 中文
 Français
 Deutsch
 Italiano
 日本語
 Қазақ
 Português
 Español
 Türkçe
117279, г. Москва, ул. Миклухо-Маклая, 55а
  1. Учебные пособия и монографии
  2. 2024
  3. Экспертиза объектов интеллектуальной собственности

Экспертиза объектов интеллектуальной собственности

Экспертиза объектов интеллектуальной собственности

Учебник / В.Е. Китайский; под общ. ред. А.О. Аракеловой. – М.: ФГБОУ ВО РГАИС, 2024. – 364 с.
ISBN 978-5-89508-214-0

В учебнике представлен процесс подготовки заявочных материалов на выдачу охранных документов на изобретения, полезные модели, промышленные образцы, товарные знаки и знаки обслуживания, географические указания  и наименования мест происхождения товаров, селекционные достижения, программы для ЭВМ, базы данных, топологии интегральных микросхем, их подачи и рассмотрения в уполномоченных федеральных органах исполнительной власти.

При подготовке издания были использованы материалы лекций «Основы патентной экспертизы», «Патентная экспертиза», «Теория и практика патентной экспертизы» и «Экспертиза объектов интеллектуальной собственности», читаемых автором в Российской государственной академии интеллектуальной собственности (РГАИС) на протяжении 25 лет, а также ранее изданные им учебники, учебные пособия и монографии, в которых освещаются вопросы экспертизы объектов интеллектуальной собственности.

Учебник предназначен для студентов и аспирантов, обучающихся по направлению подготовки «Юриспруденция» и изучающих дисциплины, связанные с правом интеллектуальной собственности. Также он может быть полезен сотрудникам организаций, в чьи должностные обязанности входят вопросы сопровождения инновационных проектов, регистрации объектов интеллектуальных прав, патентным поверенным и слушателям курсов повышения квалификации  и профессиональной переподготовки.

Экспертиза объектов интеллектуальной собственности