Экспертиза объектов интеллектуальной собственности
Экспертиза объектов интеллектуальной собственности
Учебник / В.Е. Китайский; под общ. ред. А.О. Аракеловой. – М.: ФГБОУ ВО РГАИС, 2024. – 364 с.
ISBN 978-5-89508-214-0
В учебнике представлен процесс подготовки заявочных материалов на выдачу охранных документов на изобретения, полезные модели, промышленные образцы, товарные знаки и знаки обслуживания, географические указания и наименования мест происхождения товаров, селекционные достижения, программы для ЭВМ, базы данных, топологии интегральных микросхем, их подачи и рассмотрения в уполномоченных федеральных органах исполнительной власти.
При подготовке издания были использованы материалы лекций «Основы патентной экспертизы», «Патентная экспертиза», «Теория и практика патентной экспертизы» и «Экспертиза объектов интеллектуальной собственности», читаемых автором в Российской государственной академии интеллектуальной собственности (РГАИС) на протяжении 25 лет, а также ранее изданные им учебники, учебные пособия и монографии, в которых освещаются вопросы экспертизы объектов интеллектуальной собственности.
Учебник предназначен для студентов и аспирантов, обучающихся по направлению подготовки «Юриспруденция» и изучающих дисциплины, связанные с правом интеллектуальной собственности. Также он может быть полезен сотрудникам организаций, в чьи должностные обязанности входят вопросы сопровождения инновационных проектов, регистрации объектов интеллектуальных прав, патентным поверенным и слушателям курсов повышения квалификации и профессиональной переподготовки.