19 декабря в РГАИС состоялось заседание научной школы кафедры Патентного права и правовой охраны средств индивидуализации РГАИС, посвященное теме Ратификации Женевского акта Гаагского соглашения по международной регистрации промышленных образцов.
На заседании научной школы присутствовали около семидесяти специалистов из Москвы, Санкт-Петербурга, Саратова и других городов России.
Обсуждались такие вопросы, как:
1. "О ратификации Женевского акта Гаагского соглашения по международной регистрации промышленных образцов" -(доклачик: Петров Е.Н. - к.т.н.,доцент, зав кафедрой;  Ревинский О.В. - к.ю.н., доцент, профессор кафедры);
2. "Некоторые особенности проведения судебной  и патентоведческой экспертизы промышленных образцов" (докладчик: Китайский В.Е. - к.т.н., доцент, профессор кафедры);
3.«Основные особенности и преимущества Гаагской системы международной регистрации промышленных образцов» (докладчик: Морозова Е.А. - ведущий государственный эксперт по интеллектуальной собственности ФГБУ ФИПС);
4.«Подача заявок на российские промышленные образцы в электронном виде»(докладчик: Кононенко И.Ю. - заведующий отделом сопровождения и развития портальных решений ФГБУ ФИПС).
В качестве консультанта по технологическим и организационным аспектам делопроизводства по международным заявкам на промышленные образцы выступила Сендовская О.А. - старший научный сотрудник отдела технологического и организационного обеспечения ФГБУ ФИПС.